Pomiary optyczne

ZEISS O-DETECT z ZEISS INSPECT

Wielozadaniowość

Połączenie pomiarów optycznych i stykowych sprawia, że ZEISS O-DETECT z ZEISS INSPECT to prawdziwie wielozadaniowe rozwiązanie do szerokiej gamy zadań pomiarowych w różnych branżach. ​

Optyczna maszyna pomiarowa została zaprojektowana z myślą o optymalnym zapewnieniu jakości dzięki wysokiej jakości obrazów. Rozszerz inspekcję optyczną o pomiary stykowe dzięki układom trzpieni pomiarowych dostępnym dla ZEISS O-DETECT.

Dwie kamery, które widzą wszystko

Rozwiązanie to jest wyposażone w dwie kamery, które zapewniają stały podgląd. Zintegrowana kolorowa kamera poglądowa umożliwia szybsze ustawienie części i rozpoczęcie pomiaru. Kamera pomiarowa z wyjątkowym układem optycznym ZEISS i zoomem cyfrowym ZEISS zapewnia duże pole widzenia i wysoką rozdzielczość, co przekłada się na większą wydajność i możliwość uchwycenia większej ilości szczegółów. W połączeniu z technologią przetwarzania obrazu ZEISS umożliwia przekształcanie obrazów w precyzyjne wyniki pomiarów.

Bez czasochłonnego przygotowania

Dzięki ZEISS O-DETECT i ZEISS INSPECT części można poddać inspekcji w dowolnym momencie. ​Przed pomiarem nie są wymagane żadne przygotowania. Wystarczy zamocować obiekt w uchwycie, umieścić go na szklanej płycie stołu pomiarowego i rozpocząć inspekcję. ​Oznacza to brak kompromisów w zakresie dokładności i szybkie rozpoczęcie oceny.

Intuicyjna obsługa dzięki oprogramowaniu ZEISS INSPECT

ZEISS O-DETECT współpracuje z oprogramowaniem ZEISS INSPECT. To kompleksowe, zorientowane na użytkownika oprogramowanie jest uznanym standardem w metrologii 3D. Korzystaj z intuicyjnych funkcji, takich jak planowanie ścieżek bezkolizyjnych, automatyczny wybór strategii pomiarowych i wirtualne pomieszczenie pomiarowe (VMR) jako oprogramowanie do centralnej kontroli i planowania pomiarów.

Poprzedni
1/2
Następny
Poprzedni
1/2
Następny

Funkcjonalności

Oświetlenie, które robi różnicę

Dzięki różnym opcjom oświetlenia, rozwiązanie to doskonale dopasowuje się do zadań inspekcyjnych. W zależności od rodzaju powierzchni części, różne źródła światła oświetlają obiekt od góry. Błyszczące lub odbijające światło części można również mierzyć wykorzystując rozproszone źródło światła. Chcesz wykonać kontrolę konturów obiektu? Podświetlenie umieszczone od dołu poprawia jakość krawędzi, umożliwiając jeszcze dokładniejsze inspekcje optyczne.

Programowanie części z instrukcjami

Programowanie części jest ważną czynnością w kontekście zapewnienia dokładnych wyników pomiarów. Oprogramowanie ZEISS INSPECT prowadzi użytkownika przez proces programowania. Pozwala to zapewnić szybkie i odtwarzalne plany pomiarowe do inspekcji seryjnej przy zachowaniu najwyższej jakości danych.

Trzpienie do pomiaru w pojedynczych punktach

Czasami pomiar optyczny nie jest wystarczający. W przypadku miejsc trudno dostępnych ZEISS O-DETECT z ZEISS INSPECT oferuje proste rozszerzenie o funkcjonalność pomiaru stykowego. Układ trzpieni pomiarowych pasywnej głowicy ZEISS XDT jest przeznaczony do precyzyjnych pomiarów stykowych dzięki stabilnemu zachowaniu trzpienia podczas inspekcji części. ​

Wyniki pomiarów o wysokiej precyzji

ZEISS O-DETECT z ZEISS INSPECT oznacza zero wątpliwości odnośnie wyników. Kalibracja do MPE EU(3D) zgodnie z normą ISO 10360 zapewnia wiarygodne i porównywalne dane 2D i 3D.

Akcesoria

Nieograniczone możliwości zastosowania

O-DETECT z ZEISS INSPECT to najlepszy wybór do inspekcji małych i płaskich części oraz jasnych i ciemnych powierzchni. Dzięki inteligentnej koncepcji oświetlenia i opcji pomiaru stykowego, system nadaje się do szerokiego zakresu zastosowań i wielu branż. 

Szeroki zakres zastosowań

Przemysł

  • Medycyna/farmaceutyka
  • Motoryzacja
  • Elektronika
  • Lotnictwo
  • Tworzywa sztuczne
  • Produkcja stali

Materiały

  • Metale
  • Ceramika
  • Kompozyty
  • Tworzywa sztuczne i wyroby gumowe
  • Szkło

Procesy

  • Tłoczenie i cięcie
  • Odlewanie i frezowanie
  • Wytrawianie
  • Wytłaczanie i spiekanie

Dane techniczne

ZEISS O-DETECT z
ZEISS INSPECT
O-DETECT 3/2/2
O-DETECT 5/4/3
Objętość pomiarowa
300 x 200 x 200 mm3
500 x 400 x 300 mm3
Pole widzenia
8,4 x 7,0 mm2
8,4 x 7,0 mm2
Błąd pomiaru długości E0 w μm
w 2D: 1,9 µm + L/150 µm
w 3D: 2,4 µm + L/150 µm
w 2D: 1,9 µm + L/150 µm
w 3D: 2,4 µm + L/150 µm
Obiektyw
ZEISS INVENTA D1
ZEISS INVENTA D1
Oprogramowanie
ZEISS INSPECT
ZEISS INSPECT

Chcesz dowiedzieć się więcej?

Skontaktuj się z lokalnym partnerem #HandsOnMetrology.

Dowiedz się więcej

i

Please select the topic you seek more information about
Getting Started – Basics

O-DETECT with ZEISS INSPECT: The basics of vision measurement technology

Getting Started – Basics

O-DETECT with ZEISS INSPECT: The setup

Getting Started – Basics

O-DETECT with ZEISS INSPECT: Introduction to ZEISS INSPECT

Getting Started – Next Steps

O-DETECT with ZEISS INSPECT: Aligning optical and tactile sensors

Getting Started – Next Steps

O-DETECT with ZEISS INSPECT: Performing simple measurements

Getting Started – Next Steps

O-DETECT with ZEISS INSPECT: Measuring complex parts

Getting Started – Next Steps

O-DETECT with ZEISS INSPECT: Reports for series measurements

Previous
Next